解决方案

提供使用者应用经验与规范知识

产业解决方案选单
GJB GB GB(电器电子元件) GB-PCB MIL IPC IEC 太阳能 IPC-1

国际规范查询目录

GB
  ■环境试验设备
项目 规范条件 规范名称(中文)
1 GB 10586-89 湿热试验箱技术条件
2 GB 10587-89 盐务试验箱技术条件
3 GB 10588-89 长霉试验逄技术条件
4 GB 10589-89 低温试验箱技术条件
5 GB 10590-89 低温/低气压试验箱技术务件
6 GB 10591-89 高温/低气压试验箱技术条件
7 GB 10592-89 高、低温试验箱技术条件
8 GB 11158-89 高温试验箱技术条件
9 GB 11159-89 低气压试验箱技术条件
■环境试验设备基本参数检定方法
1 GB/T 5170.1-1995 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 总则
2 GB/T 5170.2-1996 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备
3 GB/T 5170.5-1996 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 湿热试验设备
4 GB/T 5170.8-1996 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 盐雾试验设备
5 GB/T 5170.9-1996 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 太阳辅射试验设备
6 GB/T 5170.10-1996 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 高低温低气压试验设备
7 GB/T 5170.11-1996 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 腐蚀气体试设备
8 GB 5170.13-85 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 振动(正弦)试验用机械振动台
9 GB 5170.14-85 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 振动(正弦)试验用电动振动台
10 GB 5170.15-85 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 振动(正弦)试验用液压振动台
11 GB 5170.16-85 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 恒加速度试验用离心式试验机
12 GB 5170.17-87 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
13 GB 5170.18-87 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 温度/湿度组合迴圈试验设备
14 GB 5170.19-89 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 温度/振动(正弦)综合试验设备
15 GB 5170.20-89 电工电子産品环境试验设备基本参数检定方法 水路试验设备
16 GB/T 2421-1999 电工电子産品环境试验 第1部分:总则
17 GB/T 2422-1995 电工电子産品环境试验 术语
18 GB/T 2423.1-1989 电工电子産品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法
19 GB/T 2423.2-1989 电工电子産品基本环境试验规程 试验B:高温试验方法
20 GB/T 2423.1-1993 电工电子産品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法
21 GB/T 2423.1-1993 电工电子産品基本环境试验规程 试验Db:交变湿热试验方法
22 GB/T 2423.5-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
23 GB/T 2423.6-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞
24 GB/T 2423.7-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)
25 GB/T 2423.8-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
26 GB/T 2423.9-1989 电工电子産品基本环境试验规程 试验Cb:设备用恒定湿热试验方法
27 GB/T 2423.10-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc和导则:振动(正弦)
28 GB/T 2423.11-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fd:宽频带随机振动—一般要求
29 GB/T 2423.12-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fda: 宽频带随机振动—高再现性
30 GB/T 2423.13-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fda: 宽频带随机振动—中再现性
31 GB/T 2423.14-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fda: 宽频带随机振动—低再现性
32 GB/T 2423.15-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速度
33 GB/T 2423.16-1999 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验J和导则:长霉
34 GB/T 2423.17-1993 电工电子産品基本环境试验规程 第2部分:试验方法 试验Ka;盐雾试验方法
35 GB/T 2423.18-2000 电工电子産品环境试验 第2部分:试验 试验Kb:盐务,交变(氯化钠溶液)
36 GB/T 2423.19-1981 电工电子産品基本环境试验规程 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法
37 GB/T 2423.20-1981 电工电子産品基本环境试验规程 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验方法
38 GB/T 2423.21-1991 电工电子産品基本环境试验规程 试验M:低气压试验方法
39 GB/T 2423.22-1987 电工电子産品基本环境试验规程 试验N:温度变化试验方法
40 GB/T 2423.23-1995 电工电子産品环境试验 试验Q:密封
41 GB/T 2423.24-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验 试验Sa:类比地面上的太阳辅射
42 GB/T 2423.25-1992 电工电子産品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试验
43 GB/T 2423.26-1992 电工电子産品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验
44 GB/T 2423.27-1981 电工电子産品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验
45 GB/T 2423.28-1982 电工电子産品基本环境试验规程 试验T:锡焊试验方法
46 GB/T 2423.29-1999 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验U:引出端及整体安装件强度
47 GB/T 2423.30-1999 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验XA和导则:在清洗剂中浸渍
48 GB/T 2423.31-1985 电工电子産品基本环境试验规程 倾斜和摇摆试验方法
49 GB/T 2423.32-1985 电工电子産品基本环境试验规程 润湿称量法可焊性试验方法
50 GB/T 2423.33-1989 电工电子産品基本环境试验规程 试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法
51 GB/T 2423.34-1986 电工电子産品基本环境试验规程 试验Z/AD:温度/湿度组合迴圈试验方法
52 GB/T 2423.35-1986 电工电子産品基本环境试验规程 试验Z/Afc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法
53 GB/T 2423.36-1986 电工电子産品基本环境试验规程 试验ZBFc: 散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法
54 GB/T 2423.371989 电工电子産品基本环境试验规程 试验L:砂尘试验方法
55 GB/T 2423.38-1990 电工电子産品基本环境试验规程 试验R:水试验方法
56 GB/T 2423.39-1990 电工电子産品基本环境试验规程 试验Ee:弹跳试验方法
57 GB/T 2423.40-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热
58 GB/T 2423.41-1994 电工电子産品基本环境试验规程 风压试验方法
59 GB/T 2423.42-1995 电工电子産品环境试验 低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法
60 GB/T 2423.43-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 元件\设备和其他産品在冲击(Ea)、碰撞(Eb)、振动(Fc和Fd)和稳态加速度(Ga)等动力学试验中的安装要求和导则
61 GB/T 2423.44-1995 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eg:撞击 弹簧锤
62 GB/T 2423.45-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABDM:气候顺序
63 GB/T 2423.46-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ef:撞击 摆锤
64 GB/T 2423.47-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fg:声振
65 GB/T 2423.48-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ff:振动---时间历程法
66 GB/T 2423.49-1997 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fe:振动---正弦拍频法
67 GB/T 2423.50-1999 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验
68 GB/T 2423.51-2000 电工电子産品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ke:流动溷合气体腐蚀试验
69 GB/T 2424.1-1989 电工电子産品基本环境试验规程 高温低温试验导则
70 GB/T 2424.2-1993 电工电子産品基本环境试验规程 湿热试验导则
71 GB/T 2424.10-1993 电工电子産品基本环境试验规程 大气腐蚀加速试验的通用导则
72 GB/T 2424.11-1982 电工电子産品基本环境试验规程 接触点和连接件的二氧化硫试验导则
73 GB/T 2424.12-1982 电工电子産品基本环境试验规程 接触点和连接件的硫化氢试验导则
74 GB/T 2424.13-1981 电工电子産品基本环境试验规程 温度变化试验导则
75 GB/T 2424.14-1993 电工电子産品环境试验 第2部份:试验方法 太阳辅射试验导则
76 GB/T 2424.15-1992 电工电子産品基本环境试验规程 温度/低气压综合试验导则
77 GB/T 2424.17-1995 电工电子産品环境试验 锡焊试验导则
78 GB/T 2424.19-1984 电工电子産品基本环境试验规程 类比贮存影响的环境试验导则
79 GB/T 2424.20-1985 电工电子産品基本环境试验规程 倾斜和摇摆试验导则
80 GB/T 2424.21-1985 电工电子産品基本环境试验规程 润湿称量法可焊性试验导则
81 GB/T 2424.22-1986 电工电子産品基本环境试验规程 温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则
82 GB/T 2424.23-1990 电工电子産品基本环境试验规程 水试验导则
83 GB/T 2424.24-1995 电工电子産品环境试验 温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则
84 GB/T 2424.25-2000 电工电子産品环境试验 第3部份:试验导则 地震试验方法
85 GB/T 10593.1-1989 电工电子産品环境参数测量方法 振动
86 GB/T 10593.2-1990 电工电子産品环境参数测量方法 盐雾
87 GB/T 10593.1-1989 电工电子産品环境参数测量方法 振动资料处理和归纳
■其他类
项目 规范条件 规范名称(中文) 规范名称(英文) 国际整合
1 GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法 Determination of failure rate of electronic elements and components  
2 GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 Constant stress life tests and acceleration life tests--General rules  
3 GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法 Methods of test of variable capacitors in electronic equipment IEC 60418-1-81
4 GB/T 4619-1996 液晶显示器件测试方法 Measuring methods for liquid crystal display devices  
5 GB/T 4677.1-1984 印刷电路板表层绝缘电阻测试方法 Test method of surface insulation resistance for printed boards IEC 60326-2-76
6 GB/T 4677.2-1984 印刷电路板金属化孔镀层厚度测试方法 微电阻法 Micro-resistance test method of plating thickness of platedthrough holes for printed boards IPC TM-650
7 GB/T 4677.3-1984 印刷电路板拉脱强度测试方法 Test methods of pull strength for printed boards IEC 60326-2-76
8 GB/T 4677.4-1984 印刷电路板抗剥强度测试方法 Test methods of peel strength for printed boards IEC 60326-2-76
9 GB/T 4677.5-1984 印刷电路板翘曲度测试方法 Test methods of platness for printed boards IPC D-300
10 GB/T 4677.10-1984 印刷电路板可焊性测试方法 Test method of solderability for printed boards IEC 60068-2-20C
11 GB/T 4677.11-1984 印刷电路板耐热冲击试验方法 Test methods of thermal shock for printed boards IEC 60326-2-76
12 GB/T 4677.12-1988 印刷电路板互连电阻测试方法 Test method of interconnection resistance for printed boards IEC 60326-2-76
13 GB/T 4677.13-1988 印刷电路板金属化孔电阻的变化 热迴圈测试方法 Test method of change in resistance of plated-through holes--Thermal cycling for printed boards IEC 60326-2A-80
14 GB/T 4677.14-1988 印刷电路板蒸汽-氧气加速老化试验方法 Test method of steam/oxygen accelerated ageing of printed board IEC 60326-2A-80
15 GB/T 4677.17-1988 多层印刷电路板内层绝缘电阻测试方法 Test method for insulation resistance within inner layers of multilayer printed boards IEC 60326-2-76
16 GB/T 4677.18-1988 多层印刷电路板层间绝缘电阻测试方法 Test method for insulation resistance between layers of multilayer printed boards IEC 60326-2-76
17 GB/T 7613.1-1987 印刷电路板导线耐电流试验方法 Test method for current proof of conductors on printed boards  
18 GB/T 7613.2-1987 印刷电路板表层耐电压试验方法 Test methods for voltage proof of surface layers on printed boards  
19 GB/T 12631-1990 印製导线电阻测试方法 Test method for resistance of conductor of printed boards IEC 60326-2-76
20 GB/T 12848-1991 扭曲向列型液晶显示器件总规范 (可供认证用) Generic specification of twisted nematic liquid crystal display devices  
21 GB/T 15427-1994 彩色显示管测试方法 Methods of measurement of colour display tubes  
(0512)5776-4900

您有任何疑问吗? 立即联络我们

kson@kson.cn

需要设备谘询? 写信给我们

Mon – Fri 08:30 – 17:00

服务时间

昆山庆声电子科技有限公司

昆山总部-昆山市周市镇339省道518号(北侧门)

联络电话: (0512)5776-4900

传真电话: (0512)5776-4300