
解决方案
带您快速了解八大产业中-昆山庆声电子能协助您的解决方案有哪些
电动车产业
汽车是由几千个零部件组成的複杂産品,其産品可靠性十分重要,严苛的环境(运输过程、存放、工作中、气候...等等)考验着电动车电子系统,昆山庆声电子为您整理出电动车相关的试验条件列表,希望能够提供给客户参考。
技术文章与规范
相关试验设备
-
可程式恒温恒湿试验机(标准型)
执行车用电子与电动车的冷凝结露试验(湿热温度循环、组合温湿度循环、湿度抵抗) [规范:ISO16750、LV 124、AECQ-200、IEC60068-2],另外还有加速老化、温度梯度、指定温变率温度循环、热浸透温度循环..等试验。
详细资料 -
热应力复合机(TSC)
进行规范ISO16750所要求之(温度循环、规定转换时间的快速温度变化),LV124(升降温运行、温度循环试验、温度冲击),及AECQ-100、AECQ-200的(温度循环[TC]、功率温度循环[PTC])、AECQ-200温度冲击..等快速温度循环(4~30℃/min)及温度冲击试验。
详细资料 -
快速温变应力筛选机(ESS)
针对车用电子的主动零件、被动零件、PCBA(印刷电路板组成)进行全检,透过快速温变应力(5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min),来发现潜在的缺陷零组件与生产工艺瑕疵,提高整体质量与可靠性。
详细资料 -
高度加速寿命试验(HAST)
针对车规零件、材料在恒定高湿环境(85%R.H.),提高温度、压力,执行加速寿命试验[JESD22-A110、JESD22-A118],有效缩短传统高温高湿试验时间[JESD22-A101],并可执行湿度(100%R.H.)高压力的强迫吸湿与破坏性试验[JESD22-A102]。
详细资料
设备常见问题
- 离子迁移增加的原因:
- 为什麽现在的电子产品必须要特别测试离子迁移,以前好像没有听说?
- 製程改变是否就会增加离子迁移的发生机率:
- 为什麽导入无铅製程之后就容易发生离子迁移?
- 户外移动型与室内用电子产品的离子迁移发生率比较:
- 户外移动型产品为什麽离子迁移的发生机率比较高?
- 离子迁移、CAF、锡鬚三者的差异:
- 离子迁移、CAF、锡鬚这三种东西是否是一样,只是称呼不同,如果不同差别在哪裡,如何区分?
- 离子迁移的生长:
- 离子迁移要发生需要哪些条件?
- 为什麽做离子迁移试验要用到恆温恆湿机:
- 进行离子迁移试验为什麽不可用冷热冲击机,只能够用恆温恆湿机?
- 离子迁移加速方式:
- 离子迁移试验的时间都很长,有没有办法缩短时间?
- 离子迁移测试电路:
- 离子迁移的测试电路分为哪些类型,其试验目的是否相同?
- 离子迁移电压:
- 进行离子迁移试验时需要施加多少电压才是正确的电压?
- 离子迁移判定:
- 如何判断电路板生长出离子迁移?
- 离子迁移的生长速度:
- 离子迁移的生长速度是一瞬间还是缓慢生长?
- 离子迁移量测系统的功能:
- 离子迁移量测系统除了量测离子迁移之外还可以进行哪些试验?
- 无铅銲锡与离子迁移是否有关係:
- 离子迁移的生长幅度与速度是否与无铅銲锡有所关係?
- 什麽是CAF(导电性细丝物):
- CAF如何生长,其试验方法与离子迁移是否一样,有没有特殊的试验方式?
- CAF的生长情况:
- 什麽样的环境会造成CAF生长?
- CAF的判定方式:
- 如何判定电路板有生长CAF以及未来可能会长出CAF
- 软性电路板(FPC)的迁移试验:
- 软性电路板(FPC)是否需要进行离子迁移试验,如果有的话其试验条件与国际规范为何?
- 双电压与单电压的差异性:
- 在表面绝缘电阻试验当中,有分为所谓的单电压与双电压,对于实验上有什麽差异?
- 正向电压与逆向电压的差异性:
- 双电压当中又有分为正扁压与逆偏压,请问这两种偏压对于实验是否有影响?
- 错误的试验方式:
- 在进行离子迁移试验中有哪些错误的方式会造成实验失败与失效?
- 待测品摆设方式:
- 进行离子迁移试验时,待测品的摆设方式要怎麽样摆设,需要注意哪些事情?
- 离子迁移试验与锡炉:
- 进行离子迁移试验的PCB是否需要过锡炉?
- PCB使用寿命:
- 如何透过离子迁移试验去计算PCB的使用寿命?
整理与介绍目前环境试验当中,使用者在使用环境试验设备,以及对于规范的要求常遇见的问题与迷失,若您有下述相关问题欢迎您与业务部联繫,我们将竭诚为您服务。
- 温度冲击试验温变率是否是越快越好?
- 说明:温度冲击试验中的温变率是否是越快越好,温变率到底对于试验结果有没有影响,怎麽样的温变率才是好的冲击温变率?
- 温度冲击与温度循环如何分辨?
- 说明:温度冲击与温度循环两者的差异性在哪裡,还是都一样只是称呼不一样而已?
- 温度冲击试验驻留时间如何决定?
- 说明:在冲击过程当中有所谓的驻留时间,待测品的驻留时间要如何决定,是依据待测品的数量,还是看待测品的材质而定?
- 冲击温度需OVER或低于设定值?
- 说明:冲击过程中,冲击温度因该是高于设定值,还是低于设定值才是正确的?
- 冲击试验的温度感知器,因放置于测试区还是风道裡面?
- 说明:冲击试验机的温度感测器,其放置位置因该要放在测试区裡面还是风道裡面?
- 先冲高温还是先冲低温?
- 说明:温度冲击试验中,因该是要先冲高温还是先冲低温,如果规范没有要求的话怎麽决定?
- 为什麽有些冲击要过常温?
- 说明:为什麽有些冲击要过常温,而有些冲击不需要过常温,过常温的冲击试验对于产品有什麽影响?
- 使用烤箱与冷冻柜是否可以取代冷热冲击机来进行试验?
- 说明:如果没有钱买冷热冲击机的话,是否可以使用烤箱与冷冻柜透过人工搬运的方式来取代冷热冲击机
- 如何透过冷热冲击机来计算产品预估寿命?
- 说明:使用冷热冲击机使否可以计算预估产品可能的使用寿命
试验中的问题:
- 手持待测品的要点?
- 说明: 要将待测品拿到试验炉内放置,怎麽样拿才正确
- 试验炉壁多久需要擦拭?
- 说明:试验炉壁多久需要擦拭,是年保养还是季保养还是週保养,如果不擦的话又会怎麽样
- 我想要缩短试验时间因该怎麽做?
- 说明:我在进行高温高湿试验或是冲击试验时,有没有办法缩短我的试验时间,让试验结果一样
产业测试整合
-
恆温恆湿机(THS)+表面绝缘电阻量测系统(SIR)
提供高温高湿85/85进行寿命老化试验,使待测品脆化与特性衰退。
快速温变热应力试验机(TSC)+多功能高速导通电阻量测分析系统(VMR)
昆山庆声电子推出能够在定点温度、高温高湿、高低温冷热冲击、高低温快速温度循环、高度加速寿命试验,各种可靠度环境试验下,高速量测、纪录、数据分析各种材料与銲点,如:FPC、PCBA、电阻、电感、 电容、BGA&CSP銲点、先进封装(Sip、SoC、WLP、PLP、FOWLP、3D-IC、FCin MCep、FCBGA、 Fc CSP...等)的接合度可靠性,协助客户快速有效分析产品接合点可靠度评估。
快速温变热应力试验机(TSC)+导通电阻量测系统(MLR)
提供可控制升降温温变的剧烈温变,让锡球接点或导通线路断裂,找出材料潜在瑕疵。
高度加速寿命试验机(HAST)+表面绝缘电阻量测系统(SIR)
维持高湿85%R.H,提高试验温度&压力加速零件材料老化,缩短寿命试验测试时间。
解决方案
庆声还可以为您做些什麽?
昆山庆声电子完整的设备产品技术, 从精密零件 晶片电阻/电容/电感/IC脚座/IC连接器/多层基板 产业,高科技零件分离式半导体(功率晶体/电晶体/发光二极体/二极体);集合式半导体(CPU/DRAM/SRAM/EPROM/快闪记忆IC/逻辑IC) 产业, 电脑资讯系统 个人电脑/笔记型电脑/主机板/介面卡/网路周边 产业与有线无线通信产业, 均可供应完善的设备品质与售后服务。
◎庆声可提供您可靠度专业谘询,整合客户端应用产品,提供最完整市场服务价值。 目前区域网络以东南亚...等地建立行销据点,建立在地机制化服务、e 化行销通路、运作管理模式及顾客关係管理(CRM)...等内容,让行销与服务无远弗届快速传达。
若您需要即时的协助, 请联络下列办公室:
TEL: (0512)5776-4900
FAX: (0512)5776-4300、(0512)5776-4100
设备需求谘询-
新设备询价(客服中心维修)公众号二维码
