解决方案

带您快速了解八大产业中-昆山庆声电子能协助您的解决方案有哪些

云端产业

云端运算(Cloud Computing)已被视为目前全球科技业最大的成长机会,未来几年,全球科技业将重新洗牌,诞生新的营运获利模式,并改变生活方式,面对一连串的硬体需求测试,更严苛的规范需求,您,准备好了吗?让昆山庆声电子来为您解决测试上的难题。
云端概念与科技的结合,当中的关键硬体技术,首要还是散热性的问题,越是优异性能的伺服器所需要的散热性极为重要,在众多测试当中,如何找出最有效的试验方法以便解决可靠性的问题呢? 庆声整理热传导专区提供云端产业参考,从根本的散热性问题去改善,提高产品可靠性。

技术文章与规范

相关试验设备

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    可程式恆温恆湿试验机(标准型)

    恆温恆湿机的目的是模拟产品在气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、低温低湿、结露试验...等),检测产品本身的适应能力与特性是否改变。 ※ 需符合国际性规范之要求(IEC、JIS、GB、MIL…)以达到国际间量测程序横线野蛮整齐的一致性(含测试步骤、条件、方法)避免认知不同,并缩小量测不确定的因素范围发生。

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    可程式冷热冲击试验机(气体式)(三箱待测品不动式)

    冷热冲击机可用来测试材料结构或複合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度, 藉以在最短时间内 试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害.适用的对象包括金属, 塑胶, 橡胶, 电子....等材料,可作为其产品改进的依据或参考。

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    高度加速寿命试验机

    加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分佈函数呈什麽样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

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    表面绝缘电阻量测系统

    扫瞄式的表面绝缘电阻量测系统(SIR-2006B-250V),可扩充达200轨的迁移量测,而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限,无法记录迁移结束时间还有纪录迁移发生时间,让客户以最少的设备成本,可以得到最大的生产效益。

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    自然对流试验机

    昆山庆声电子研发出一套模拟实际室内环境温度的解决方案,透过自然对流试验设备与软体,产生没有透过风扇的温度环境(自然对流),并且进行待测品相关温度侦测之测试整合试验,此解决方案可适用于家庭相关电子产品的实际环境温度试验(如:大尺寸液晶电视、笔记型电脑、桌上型电脑、游戏机、音响.......等)。

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设备常见问题

整理与介绍目前环境试验当中,使用者在使用环境试验设备,以及对于规范的要求常遇见的问题与迷失,若您有下述相关问题欢迎您与业务部联繫,我们将竭诚为您服务。
  1. 离子迁移增加的原因:
    • 为什麽现在的电子产品必须要特别测试离子迁移,以前好像没有听说?
  2. 製程改变是否就会增加离子迁移的发生机率:
    • 为什麽导入无铅製程之后就容易发生离子迁移?
  3. 户外移动型与室内用电子产品的离子迁移发生率比较:
    • 户外移动型产品为什麽离子迁移的发生机率比较高?
  4. 离子迁移、CAF、锡鬚三者的差异:
    • 离子迁移、CAF、锡鬚这三种东西是否是一样,只是称呼不同,如果不同差别在哪裡,如何区分?
  5. 离子迁移的生长:
    • 离子迁移要发生需要哪些条件?
  6. 为什麽做离子迁移试验要用到恆温恆湿机:
    • 进行离子迁移试验为什麽不可用冷热冲击机,只能够用恆温恆湿机?
  7. 离子迁移加速方式:
    • 离子迁移试验的时间都很长,有没有办法缩短时间?
  8. 离子迁移测试电路:
    • 离子迁移的测试电路分为哪些类型,其试验目的是否相同?
  9. 离子迁移电压:
    • 进行离子迁移试验时需要施加多少电压才是正确的电压?
  10. 离子迁移判定:
    • 如何判断电路板生长出离子迁移?
  11. 离子迁移的生长速度:
    • 离子迁移的生长速度是一瞬间还是缓慢生长?
  12. 离子迁移量测系统的功能:
    • 离子迁移量测系统除了量测离子迁移之外还可以进行哪些试验?
  13. 无铅銲锡与离子迁移是否有关係:
    • 离子迁移的生长幅度与速度是否与无铅銲锡有所关係?
  14. 什麽是CAF(导电性细丝物):
    • CAF如何生长,其试验方法与离子迁移是否一样,有没有特殊的试验方式?
  15. CAF的生长情况:
    • 什麽样的环境会造成CAF生长?
  16. CAF的判定方式:
    • 如何判定电路板有生长CAF以及未来可能会长出CAF
  17. 软性电路板(FPC)的迁移试验:
    • 软性电路板(FPC)是否需要进行离子迁移试验,如果有的话其试验条件与国际规范为何?
  18. 双电压与单电压的差异性:
    • 在表面绝缘电阻试验当中,有分为所谓的单电压与双电压,对于实验上有什麽差异?
  19. 正向电压与逆向电压的差异性:
    • 双电压当中又有分为正扁压与逆偏压,请问这两种偏压对于实验是否有影响?
  20. 错误的试验方式:
    • 在进行离子迁移试验中有哪些错误的方式会造成实验失败与失效?
  21. 待测品摆设方式:
    • 进行离子迁移试验时,待测品的摆设方式要怎麽样摆设,需要注意哪些事情?
  22. 离子迁移试验与锡炉:
    • 进行离子迁移试验的PCB是否需要过锡炉?
  23. PCB使用寿命:
    • 如何透过离子迁移试验去计算PCB的使用寿命?

整理与介绍目前环境试验当中,使用者在使用环境试验设备,以及对于规范的要求常遇见的问题与迷失,若您有下述相关问题欢迎您与业务部联繫,我们将竭诚为您服务。

  1. 温度冲击试验温变率是否是越快越好?
    • 说明:温度冲击试验中的温变率是否是越快越好,温变率到底对于试验结果有没有影响,怎麽样的温变率才是好的冲击温变率?
  2. 温度冲击与温度循环如何分辨?
    • 说明:温度冲击与温度循环两者的差异性在哪裡,还是都一样只是称呼不一样而已?
  3. 温度冲击试验驻留时间如何决定?
    • 说明:在冲击过程当中有所谓的驻留时间,待测品的驻留时间要如何决定,是依据待测品的数量,还是看待测品的材质而定?
  4. 冲击温度需OVER或低于设定值?
    • 说明:冲击过程中,冲击温度因该是高于设定值,还是低于设定值才是正确的?
  5. 冲击试验的温度感知器,因放置于测试区还是风道裡面?
    • 说明:冲击试验机的温度感测器,其放置位置因该要放在测试区裡面还是风道裡面?
  6. 先冲高温还是先冲低温?
    • 说明:温度冲击试验中,因该是要先冲高温还是先冲低温,如果规范没有要求的话怎麽决定?
  7. 为什麽有些冲击要过常温?
    • 说明:为什麽有些冲击要过常温,而有些冲击不需要过常温,过常温的冲击试验对于产品有什麽影响?
  8. 使用烤箱与冷冻柜是否可以取代冷热冲击机来进行试验?
    • 说明:如果没有钱买冷热冲击机的话,是否可以使用烤箱与冷冻柜透过人工搬运的方式来取代冷热冲击机
  9. 如何透过冷热冲击机来计算产品预估寿命?
    • 说明:使用冷热冲击机使否可以计算预估产品可能的使用寿命

试验中的问题:

  1. 手持待测品的要点?
    • 说明: 要将待测品拿到试验炉内放置,怎麽样拿才正确
  2. 试验炉壁多久需要擦拭?
    • 说明:试验炉壁多久需要擦拭,是年保养还是季保养还是週保养,如果不擦的话又会怎麽样
  3. 我想要缩短试验时间因该怎麽做?
    • 说明:我在进行高温高湿试验或是冲击试验时,有没有办法缩短我的试验时间,让试验结果一样

 

产业测试整合

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    恆温恆湿机(THS)+表面绝缘电阻量测系统(SIR)

    提供高温高湿85/85进行寿命老化试验,使待测品脆化与特性衰退。

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    快速温变热应力试验机(TSC)+多功能高速导通电阻量测分析系统(VMR)

    昆山庆声电子推出能够在定点温度、高温高湿、高低温冷热冲击、高低温快速温度循环、高度加速寿命试验,各种可靠度环境试验下,高速量测、纪录、数据分析各种材料与銲点,如:FPC、PCBA、电阻、电感、 电容、BGA&CSP銲点、先进封装(Sip、SoC、WLP、PLP、FOWLP、3D-IC、FCin MCep、FCBGA、 Fc CSP...等)的接合度可靠性,协助客户快速有效分析产品接合点可靠度评估。

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    快速温变热应力试验机(TSC)+导通电阻量测系统(MLR)

    提供可控制升降温温变的剧烈温变,让锡球接点或导通线路断裂,找出材料潜在瑕疵。

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    高度加速寿命试验机(HAST)+表面绝缘电阻量测系统(SIR)

    维持高湿85%R.H,提高试验温度&压力加速零件材料老化,缩短寿命试验测试时间。

解决方案

庆声还可以为您做些什麽?

昆山庆声电子完整的设备产品技术, 从精密零件 晶片电阻/电容/电感/IC脚座/IC连接器/多层基板 产业,高科技零件分离式半导体(功率晶体/电晶体/发光二极体/二极体);集合式半导体(CPU/DRAM/SRAM/EPROM/快闪记忆IC/逻辑IC) 产业, 电脑资讯系统 个人电脑/笔记型电脑/主机板/介面卡/网路周边 产业与有线无线通信产业, 均可供应完善的设备品质与售后服务。

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