扫瞄式的表面绝缘电阻量测系统(SIR-2006B-250V)，可扩充达200轨的迁移量测，而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限，无法记录迁移结束时间还有纪录迁移发生时间，让客户以最少的设备成本，可以得到最大的生产效益。

产品特点

科技创新：

• 各轨具备洩漏电流侦测迴路，各轨同步纪录离子迁移状态(发生时间、结束时间、迁移时间)
• 世界首创轨道发生迁移，不停止量测，可持续记录迁移发生情况
• 宽裕量测与施加电压0.5V～250V(解析度0.1V)施加电压可正负切换，满足离子迁移、表面绝缘电阻试验条
• 量测轨道扩充量大，最大可扩充200轨
• 完整侦测各轨发生迁移状况.不间断持续监控
• 各层弹性设定(群组、时间、电流保护、洩漏电流侦测点.......等
• 超值标配40channel超大扩充可到200channel
• 即时读取时间/电阻值/温度/温度之读值

规格表