SIR表面绝缘电阻量测系统

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SIR

表面绝缘电阻量测系统

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扫瞄式的表面绝缘电阻量测系统(SIR-2006B-250V),可扩充达200轨的迁移量测,而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限,无法记录迁移结束时间还有纪录迁移发生时间,让客户以最少的设备成本,可以得到最大的生产效益。

产品特点

  • 科技创新:

    • 各轨具备洩漏电流侦测迴路,各轨同步纪录离子迁移状态(发生时间、结束时间、迁移时间)
    • 世界首创轨道发生迁移,不停止量测,可持续记录迁移发生情况
    • 宽裕量测与施加电压0.5V~250V(解析度0.1V)施加电压可正负切换,满足离子迁移、表面绝缘电阻试验条
    • 量测轨道扩充量大,最大可扩充200轨
    • 完整侦测各轨发生迁移状况.不间断持续监控
    • 各层弹性设定(群组、时间、电流保护、洩漏电流侦测点.......等
    • 超值标配40channel超大扩充可到200channel
    • 即时读取时间/电阻值/温度/温度之读值

  • 规格表

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