Toshiba＆IPC-B-25A SIR测试电路注意事项

作者:江志宏

说明：

针对于日本Toshiba的TEST Pattern的特殊测试电路，以及PCB业界常用的IPC-B-25A TEST Patter，使用庆声SIR量测系统的测试方式说明。

Toshiba SIR试验要求：

测试条件：

温湿度：85℃/85%R.H.
电压：量测电压12VDC、测试电压12VDC
试验时间：连续测试650小时，每200小时量测一次绝缘阻值
判定标准：绝缘电阻值在10^8Ω以上(非连续量测)

Toshiba测试pattren外观照片：

正确架线量测方式：

说明：针对A部(A portion)只有三个测试点使用两轨道进行SIR量测，使用一轨电源端提供量测电压给两个测试点使用，第二轨的电源端不使用(仍然有电压输出，因此电源端不可接任何线路)，进行试验前需将迁移量测次数设定为最大值，避免试验中途停止。

其他实验注意事项：

如下图 PCB Pattern(IPC-B-25A)在早期非自动量测时,依实验规范不同可能每隔12小时，才量测一笔，同时用人工量测4组的电阻值，分别为A-B、B-C、C-D、D-E，但目前採用自动量测，量测是同时进行，因此有电源及量测同时存在的问题，为遵守电气量测的规则，自动量测时採两组4点方式进行，分别为A-B、D-E，C点则不使用，以防止如果其中一组已经迁移将会影响到另一组的实验结果。