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Toshiba&IPC-B-25A SIR测试电路注意事项

作者:江志宏

说明:

针对于日本Toshiba的TEST Pattern的特殊测试电路,以及PCB业界常用的IPC-B-25A TEST Patter,使用庆声SIR量测系统的测试方式说明。

Toshiba SIR试验要求:

测试条件:

温湿度:85℃/85%R.H.
电压:量测电压12VDC、测试电压12VDC
试验时间:连续测试650小时,每200小时量测一次绝缘阻值
判定标准:绝缘电阻值在10^8Ω以上(非连续量测)

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Toshiba测试pattren外观照片:

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正确架线量测方式:

说明:针对A部(A portion)只有三个测试点使用两轨道进行SIR量测,使用一轨电源端提供量测电压给两个测试点使用,第二轨的电源端不使用(仍然有电压输出,因此电源端不可接任何线路),进行试验前需将迁移量测次数设定为最大值,避免试验中途停止。

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其他实验注意事项:

如下图 PCB Pattern(IPC-B-25A)在早期非自动量测时,依实验规范不同可能每隔12小时,才量测一笔,同时用人工量测4组的电阻值,分别为A-B、B-C、C-D、D-E,但目前採用自动量测,量测是同时进行,因此有电源及量测同时存在的问题,为遵守电气量测的规则,自动量测时採两组4点方式进行,分别为A-B、D-E,C点则不使用,以防止如果其中一组已经迁移将会影响到另一组的实验结果。

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