■测试整合专区>(SIR-2006)绝缘电阻测试系统

 



绝缘电阻测试系统
(离子迁移SIR-2006)

Surface Insulation Resistance Measurement System
 

☆Bellcore GR78-CORE 试验规范要点整理
☆Toshiba&IPC-B-25A SIR测试电路注意事项
离子迁移量测系统.环境试验常见问题整理


    RoHs的要求与各国对于无铅产品的认同,加速各个生产厂商无不淘空心思解决产品再导入无铅制程的问题,但是一家公司的产品线非常多,由于现在很多都是少量多样的弹性生产,需要同一个时间进 行多项产品的试验,但是离子迁移的量测需要好几百个小时,所以使用者希望能够进行多轨的迁移试验,而且也希望能够降低使用成本,所以庆声特别针对客户的需求,研发出扫瞄式的表面绝缘电阻量测系(SIR-2006),可扩充达200轨的迁移量测,而且突破传统扫瞄式表面绝缘电阻量测系统的极限,无法记录 迁移结束时间还有纪录迁移发生时间,原本SIR-2003所拥有的图型曲线分析功能也都具备,让客户以最少的设备成本,可以得到最大的生产效益。

各轨具备泄漏电流侦测回路,各轨同步纪录离子迁移状态(发生时间、结束时间、迁移时间)
世界首创轨道发生迁移,不停止量测,可持续记录迁移发生情况
宽裕量测与施加电压0.5V~250V(分辨率0.1V),施加电压可正负切换,满足离子迁移&表面绝缘电阻
   试验条件 

量测轨道扩充量大,最大可扩充200轨

产品名称

SIR-2006 绝缘电阻测试系统
测定电压范围 0.5V 600V(0.1V STEP)
最大channel 200 Channel
电阻量测范围 1×10^6Ω~1 ×10^13Ω
直流电流测定范围 (10pA~500uA)自动切换5段直流电流量测范围
Bias Supply 方式 1 Power Supply → 40 CH
泄漏电流侦测速度 1us(各轨独立侦测)[可设定泄漏电流侦测大小]
漏电流测定放大器  Low Bias 电流高精度OP放大回路

绝缘电阻测试系统(表面绝缘阻抗)机台建议摆设示意图

 

缩图

名称 档案大小

页数

下载

绝缘电阻测试系统
(
离子迁移SIR-2006)

(size: 696KB)

4

SIR相关资料整理

SIR试验条件
(离子迁移&CAF)

无铅制程的相关可靠度问题,对于PCB&FPC还有焊锡业者来说,表面绝缘电阻降低、板材产生离子迁移与CAF(阳极导电性细丝物)..等,都是现今所必须要面对的课题之一.....

专有名词解释-PCB印刷电路板

离子迁移与相关印刷电路板专有名词介绍与说明

高速表面绝缘电阻量测系统
高速表面绝缘电阻量测系统介绍-THS使用注意事项、待测物注意事项、待测物与试验炉、HSIR注意事项...等内容.

(size: 420 KB)

离子迁移&绝缘电组
运用问答题方式.让我们更加了解SIR相关内容资料.

(size:276KB)

 SIR委测实验室:

项目 公司

宜特科技

http://www.isti.com.tw/ 台湾(繁)   
http://www.isti.com.cn 大陆(简)

台湾检验科技-SGS

http://www.tw.sgs.com/zh_tw/home_tw

以上产品目录为PDF格 式. 您需要Adobe Acrobat Reader来观看.
(您同时需要安装"Asian Font Pack",以便支持内含繁体中文的PDF文件)       

首页 | 网站导览 | 人事资源 | 着作权声明

昆山总部-江苏省昆山市周市镇陆扬迎宾西路3号  TEL: (0512)57764900                  东莞分公司-广東省东莞市黄江镇黃江大道547號  TEL: (0769)83517581